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A new concept of monolithic silicon pixel detectors: Hydrogenated amorphous silicon on ASIC

机译:整体式硅像素检测器的新概念:ASIC上的氢化非晶硅

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摘要

A new concept of a monolithic pixel radiation detector is presented. It is based on the deposition of a film of hydrogenated amorphous silicon (a-Si:H) on an Application Specific Integrated Circuit (ASIC) . For almost 20 years, several research groups tried to demonstrate that a-Si:H material could be used to build radiation detectors for particle physics applications. A novel approach is made by the deposition of a-Si:H directly on the readout ASIC. This technique is similar to the concept of monolithic pixel detectors, but offers considerable advantages. We present first results from tests of a n- i-p a-Si:H diode array deposited on a glass substrate and on the a- Si:H above ASIC prototype detector.
机译:提出了整体式像素辐射探测器的新概念。它基于在专用集成电路(ASIC)上沉积氢化非晶硅(a-Si:H)膜。在将近20年的时间里,几个研究小组试图证明a-Si:H材料可用于构建用于粒子物理应用的辐射探测器。通过将a-Si:H直接沉积在读出的ASIC上可以制成一种新颖的方法。该技术类似于单片像素检测器的概念,但是具有相当大的优势。我们展示了沉积在玻璃基板和ASIC原型检测器上方的a-Si:H上的n-i-p a-Si:H二极管阵列的测试结果。

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